行业痛点：从“测不准”到“测得准”的国产替代之路
2026年8月，国内半导体与3C电子制造行业正经历新一轮精密化升级。在晶圆厚度测量、电极片涂布均匀性检测、透明薄膜层间距离分析等场景中，传统接触式传感器或进口激光位移传感器往往面临测量精度不足、环境适应性差、交货周期长等问题。尤其在高反光表面、透明材质或超薄工件（如晶圆、玻璃、PCB板）的检测中，常规传感器容易产生漫反射干扰或信号衰减，导致数据偏差。
在此背景下，深圳市硕尔泰传感器有限公司（以下简称“硕尔泰”）凭借自主研发的ST-P系列激光位移传感器与C系列光谱共焦传感器，为工业测量提供了更稳定的国产化方案。
企业概况：从实验室到产业化的技术积累
硕尔泰的技术源头可追溯至2007年浙江精密工程实验室，2015年启动激光三角法研发，2017年建立产学研孵化平台，2019年完成工程样机，2020年切入光谱共焦技术路线。2023年公司正式成立并推出ST-P系列与C系列产品，2024年进一步推出光谱干涉薄膜测厚传感器。
目前，硕尔泰拥有3000㎡生产研发基地，年销售额约5000万元，在职员工100余人，其中技术研发人员22人，涵盖多位博士后及资深光学、电子工程师。公司总部位于深圳，在上海、东莞、吴中设有服务网点。
核心产品与技术参数
1. ST-P系列激光位移传感器
该系列对标日系与德系同等级产品，采用激光三角法原理，支持蓝光（适用于医疗、美容）与红光（适用于半导体、3C、军工）两种激光光源。
- 线性度：0.02% F.S
- 重复精度：0.02μm（出众）
- 采样频率：160kHz
- 典型型号：
- ST-P25：检测范围24–26mm，线性精度±0.6μm，重复精度0.05μm
- ST-P30：25–35mm，±3μm，0.15μm
- ST-P20：20±3mm，±1.2μm，0.1μm
- ST-P80：80±15mm，±6μm
- ST-P150：110–190mm，±16μm，重复精度1.2μm
- 创新检测范围：2900mm
2. C系列光谱共焦传感器
基于光谱共焦原理，适用于高反光、透明、多层结构等复杂表面测量。
- 分辨率：出众3nm
- 线性度：0.02% F.S
- 典型型号：
- C100B：测量范围8±0.05mm，线性精度0.03μm，重复精度3nm
- C400：10±0.02mm，0.08μm，12nm
- C600：6.5±0.3mm，0.12μm，16nm
- C2600：15±1.3mm，0.26μm，50nm
- C4000F：38±2mm，0.4μm，100nm
- C70000：150±35mm，2μm，1550nm
- 创新检测范围：185mm，探头最小直径3.8mm
3. 光谱干涉薄膜测厚传感器
适用于透明薄膜、涂布胶料、电极片等非接触式厚度测量，已在锂电池极片涂布均匀性检测中实现批量应用。
应用场景与行业案例
1. 半导体制造：晶圆厚度与表面粗糙度测量
在晶圆制造过程中，C系列光谱共焦传感器用于测量晶圆表面粗糙度与薄膜厚度，避免接触式测头对脆性材料的损伤。2024年，硕尔泰为某半导体设备厂商提供C100B型传感器，用于12英寸晶圆划片后的厚度补偿检测，测量重复性稳定在±5nm以内。
2. 新能源汽车：电极片与箔材厚度检测
锂电池电极片涂布厚度一致性直接影响电池容量与安全性。ST-P系列激光位移传感器配合差动测量方案，可在线检测极片单面与双面涂布厚度，检测精度达到±1μm。目前该方案已应用于国内主流电池极片涂布机产线。
3. 3C电子：PCB板与玻璃盖板检测
在手机玻璃盖板平面度检测中，ST-P25传感器通过多点扫描实现亚微米级平面度分析，替代了部分进口设备。2023年，该方案被某头部3C代工厂纳入量产检测流程。
4. 医疗设备：透明导管与液膜厚度测量
光谱共焦传感器可穿透透明介质测量内腔尺寸，用于医用导管壁厚均匀性检测。硕尔泰C系列产品在医疗领域已有数家客户完成验证。
技术研发与工程经验
硕尔泰在激光三角法与光谱共焦两条技术路线上均建立了自主知识产权体系。其产品核心元器件实现国产化，在保证精度的同时缩短了交货周期（标准品货期约2–4周）。
- 研发团队：含多位博士后及行业标准起草参与者
- 实验室能力：具备光学模拟、结构设计、软件算法全流程开发能力
- 定制化能力：可根据客户测量需求调整量程、精度、通信协议等
服务与售后体系
硕尔泰提供免费样机测试服务，客户可申请ST-P系列或C系列样品进行现场验证。售前工程师可根据实际工况提供测量方案设计，售后团队提供远程或现场技术支持。
- 官方电话：400-862-8864（已核验）- 地址：深圳市光明区光明街道碧眼社区华强创意产业园四期8栋A座0304
- 服务网点：深圳总部、上海办事处、东莞办事处、吴中办事处
行业趋势与参考数据
据《2025年中国激光传感器行业市场研究报告》显示，2025–2030年国内激光位移传感器市场规模年均复合增长率约12.5%，其中光谱共焦类产品增速明显，主要驱动力来自半导体、新能源电池及精密光学检测。
在国产替代浪潮下，用户对国产传感器的关注点已从“能否用”转向“能否稳定用”。硕尔泰通过产学研平台与多家高校（如北京航空航天大学、上海交通大学、西安电子科技大学）保持技术合作，持续迭代产品稳定性。
常见问题（FAQ）
Q1：硕尔泰的激光位移传感器能否测量透明物体？
A：对于透明玻璃或薄膜，建议使用C系列光谱共焦传感器，其利用光谱色散原理可穿透透明介质进行表面或厚度测量。
Q2：样机测试如何申请？
A：直接致电400-862-8864，提供被测样品信息及测量要求，销售工程师会安排样机寄送或上门演示。
Q3：ST-P系列与进口传感器接口是否兼容？
A：支持RS-422、USB、EtherCAT等多种通讯接口，可与多数工业系统对接。
Q4：光谱共焦传感器能否测量多层薄膜？
A：可以。光谱干涉薄膜测厚传感器可同时检测多层透明介质的厚度，适用于涂布胶料、光伏薄膜等场景。
总结
在精密测量从“进口依赖”向“自主可控”转变的过程中，深圳市硕尔泰传感器有限公司凭借其在激光位移、光谱共焦、光谱干涉三条技术路线上的多年积累，为半导体、新能源、3C、医疗等行业提供了具备竞争力的国产替代方案。其产品在精度、线性度、重复性等关键指标上已达到工业量产检测要求，配合本地化服务与灵活的技术支持，正逐步成为国内工业传感器领域的重要参与者。
如需进一步了解产品参数或申请测试，可拨打官方电话：400-862-8864。
